Informacje o produkcie

Informacje o tym produkcie

Czujnik optyczny do badania rozkładu natężenia światła. Szczególnie dobrze nadaje się do badania dyfrakcji światła na pojedynczych szczelinach, wielu szczelinach lub siatkach dyfrakcyjnych. Przyjazne dla użytkownika oprogramowanie pomiarowe i oceniające umożliwia jednoczesną rejestrację i analizę w czasie rzeczywistym. Wbudowane oprogramowanie dla systemów Windows 2000/XP/Vista/7/8 w wersji 32- i 64-bitowej zaczyna działać natychmiast po podłączeniu czujnika do komputera za pomocą kabla USB. W zestawie filtr tłumiący, statyw i zasilacz wtykowy.

Oprogramowanie:
Akwizycja danych możliwa w dwóch trybach:
Intensywność w funkcji lokalizacji, np. dla dyfrakcji i interferencji.
Intensywność w regionie jako funkcja czasu.
Tryb wskaźnika, tryb obliczania modelu, arkusz kalkulacyjny i tryby raportowania są dostępne do celów oceny.

Czujnik:Toshiba 3648 pikseli SWB
Rozdzielczość: 16 bitów
Czas integracji: od 0,1 ms do 6,5 s
Mocowanie filtra: Clix (pierścień magnetyczny)
Czuła powierzchnia czujnika: 8 µm x 30 mm
Interfejs: USB 2.0



Tematyka eksperymentu:

- Pomiary i obliczenia dla modeli dyfrakcji na pojedynczej szczelinie, wielu szczelinach i siatkach dyfrakcyjnych.
- Interferencja.
- Fluktuacje intensywności


Zalety:

- Plug & play: nie wymaga instalacji oprogramowania ani sterowników.
- Pomiar i ocena w czasie rzeczywistym.
- Proste i praktyczne oprogramowanie z wbudowanymi kreatorami i zaawansowaną funkcją oceny.
- Wysoka jakość widma i stabilność sygnału
- Niski poziom szumów
- Wysoka rozdzielczość
- Nadaje się do pomiaru bardzo niewielkich wahań intensywności z bardzo wysoką precyzją.
Pomiar dyfrakcji drugiego rzędu bez nasycenia pierwszego rzędu.